头颅自OM线向上横断CT扫描平扫层厚层距5mm和8mm区别
检查方法或技术:头颅CT平扫,以OM线为基准向上扫描,层厚层距10mm,共扫10层影像学表现:脑实质各叶未见明显异常,密度灶,各脑室脑池未见明显扩张或移位,中线结构无移位,所示颅骨未见明显异常。右侧上颌窦内小囊肿。用头颅造句1.目的: 评价
检查方法或技术:头颅CT平扫,以OM线为基准向上扫描,层厚层距10mm,共扫10层影像学表现:脑实质各叶未见明显异常,密度灶,各脑室脑池未见明显扩张或移位,中线结构无移位,所示颅骨未见明显异常。右侧上颌窦内小囊肿。用头颅造句1.目的: 评价