用数字万用表怎么测集成电路IC的好坏

万用表测试IC,测不出什么玩意来的,除非你知道IC的内部结构!

测试集成电路是否烧坏或短路需要专业的知识，一般没有这方面知识和技能的人，可以通过仔细观察IC的外观，做出一些简单的判断：IC表面是否有烧过的痕迹，象鼓包，裂纹，变色等。

IC引脚是否有断裂，脱焊。

IC是否有烧过的糊味。

IC周边的原件是否异常。

下面是用万用表作为检测工具的集成电路的检测方法：

一、不在路检测

这种方法是在IC未焊入电路时进行的，一般情况下可用万用表测量各引脚对应于接地引脚之间的正、反向电阻值，并和完好的IC进行比较。

二、在路检测

这是一种通过万用表检测IC各引脚在路（IC在电路中）直流电阻、对地交直流电压以及总工作电流的检测方法。

这种方法克服了代换试验法需要有可代换IC的局限性和拆卸IC的麻烦，是检测IC最常用和实用的方法。

1．在路直流电阻检测法

这是一种用万用表欧姆挡，直接在线路板上测量IC各引脚和外围元件的正反向直流电阻值，并与正常数据相比较，来发现和确定故障的方法。

测量时要注意以下三点：

(1)测量前要先断开电源，以免测试时损坏电表和元件。

(2)万用表电阻挡的内部电压不得大于6V，量程最好用R×100或R×1k挡。

(3)测量IC引脚参数时，要注意测量条件，如被测机型、与IC相关的电位器的滑动臂位置等，还要考虑外围电路元件的好坏。

2．直流工作电压测量法

这是一种在通电情况下，用万用表直流电压挡对直流供电电压、外围元件的工作电压进行测量；检测IC各引脚对地直流电压值，并与正常值相比较，进而压缩故障范围，找出损坏的元件。

测量时要注意以下八点：

(1)万用表要有足够大的内阻，至少要大于被测电路电阻的10倍以上，以免造成较大的测量误差。

(2)通常把各电位器旋到中间位置，如果是电视机，信号源要采用标准彩条信号发生器。

(3)表笔或探头要采取防滑措施。

因任何瞬间短路都容易损坏IC。

可采取如下方法防止表笔滑动：取一段自行车用气门芯套在表笔尖上，并长出表笔尖约0．5mm左右，这既能使表笔尖良好地与被测试点接触，又能有效防止打滑，即使碰上邻近点也不会短路。

(4)当测得某一引脚电压与正常值不符时，应根据该引脚电压对IC正常工作有无重要影响以及其他引脚电压的相应变化进行分析，才能判断IC的好坏。

(5)IC引脚电压会受外围元器件影响。

当外围元器件发生漏电、短路、开路或变值时，或外围电路连接的是一个阻值可变的电位器，则电位器滑动臂所处的位置不同，都会使引脚电压发生变化。

(6)若IC各引脚电压正常，则一般认为IC正常；若IC部分引脚电压异常，则应从偏离正常值最大处入手，检查外围元件有无故障，若无故障，则IC很可能损坏。

(7)对于动态接收装置，如电视机，在有无信号时，IC各引脚电压是不同的。

如发现引脚电压不该变化的反而变化大，该随信号大小和可调元件不同位置而变化的反而不变化，就可确定IC损坏。

(8)对于多种工作方式的装置，如录像机，在不同工作方式下，IC各引脚电压也是不同的。

3．交流工作电压测量法

为了掌握IC交流信号的变化情况，可以用带有dB插孔的万用表对IC的交流工作电压进行近似测量。

检测时万用表置于交流电压挡，正表笔插入dB插孔；对于无dB插孔的万用表，需要在正表笔串接一只0．1～0．5μF隔直电容。

该法适用于工作频率比较低的IC，如电视机的视频放大级、场扫描电路等。

由于这些电路的固有频率不同，波形不同，所以所测的数据是近似值，只能供参考。

4．总电流测量法

该法是通过检测IC电源进线的总电流，来判断IC好坏的一种方法。

由于IC内部绝大多数为直接耦合，IC损坏时（如某一个PN结击穿或开路）会引起后级饱和与截止，使总电流发生变化。

所以通过测量总电流的方法可以判断IC的好坏。

也可用测量电源通路中电阻的电压降，用欧姆定律计算出总电流值。

以上检测方法，各有利弊，在实际应用中最好将各种方法结合起来，灵活运用。

万能表无法测量芯片的质量。

集成电路测芯片的质量：

检查电源：用万用表直接测量VCC和GND电平，以满足要求。如果VCC与5V或33V的偏差过大，请检查7805或其他稳压器和滤波器电路的输出。

检查晶体振荡器：您可以更改晶体数量以重试。

检查RESET引脚电平逻辑，注意所使用的型号是高电平复位还是低电平复位。

如果程序在设计时从扩展外部ROM运行，请检查EA引脚。

检查MCU是否损坏或无法下载闪存。最好尝试新芯片。

如果确定上述要点是正确的，则可以合理地说硬件应该正常运行。

然后基本确定控制程序的问题，反复跟踪keil中的调试器，注意调用子程序后是否预期工作寄存器组，累加器，DPTR等。

扩展资料：

测量时要注意以下八项：

万用表应具有较大的内阻，小于被测电路电阻的10倍，以免造成较大的测量误差。

通常，每个电位计都旋转到中间位置。如果是电视机，信号源应使用标准彩条信号发生器。

测试导线或探头应防滑。可以使用以下方法防止笔滑动：取自行车的阀芯并将其放在手表的尖端，并将手表的尖端长到约05mm，这可以使手表的尖端与测试点保持良好接触，并能有效防止打滑。即使碰到相邻的点，它也不会被短路。

当引脚的测量电压与正常值不匹配时，应根据引脚电压是否对ic的正常工作和其他引脚电压的相应变化产生重要影响进行分析， ic可以判断。

ic引脚电压受外围元件的影响。当外围元件泄漏，短路，开路或可变值，或外围电路连接到电阻可变的电位器时，电位器滑动臂的位置不同，这将改变引脚电压。

如果每个引脚的电压正常，通常认为ic是正常的;如果ic引脚电压异常，应从最大偏离正常值开始检查外部元件是否有故障。如果没有故障，ic可能会被损坏。 。

对于动态接收设备，如电视机，当没有信号时，每个引脚的电压都不同。如果发现引脚的电压没有变化，则变化很大，并且信号大小的变化和可调节元件的位置不会改变，并且可以确定ic损坏。

对于具有多种工作模式的设备，如录像机，在不同的工作模式下，每个引脚的电压都不同。

参考资料：

用JTAG接口的确可以测试扫描链中的IC是否正常，但是很可惜一般来说你不会具备对应的条件，因为使用JTAG接口进行测试除了需要JTAG控制卡以外，更重要的是还需要使用电路板网表文件、各个芯片BSDL文件、测试模式控制进入方式等设计文件生成的测试向量才可以进行，否则连测试模式都进入不了。

测试相关的各种名词： ATE-----------Automatic Test Equipment,自动化测试设备，是一个高性能计算机控制的设备的集合，可以实现自动化的测试。

Tester ---------测试机，是由电子系统组成，这些系统产生信号，建立适当的测试模式，正确地按顺序设置，然后使用它们来驱动芯片本身，并抓取芯片的输出反馈，或者进行记录，或者和测试机中预期的反馈进行比较，从而判断好品和坏品。

Test Program ---测试程序，测试机通过执行一组称为测试程序的指令来控制测试硬件

DUT -----------Device Under Test,等待测试的器件，我们统称已经放在测试系统中，等待测试的器件为DUT。 

 F T 测试就是在  Package Device上进行测试下图就是一个完整的FT的测试系统。对比wafer test，其中硬件部分，prober换成了handler，其作用是一样的，handler的主要作用是机械手臂，抓取DUT，放在测试区域，由tester对其进行测试，然后handler再根据tester的测试结果，抓取DUT放到相应的区域，比如好品区，比如坏品1类区，坏品2类区等。

而probe card则换成了load board,其作用是类似的，但是需要注意的是load board上需要加上一个器件—Socket,这个是放置芯片用的，每个不同的封装芯片种类都需要不同的socket，如下面图二所示，load board上的四个白色的器件就是socket。

   Handler 必须与 tester 相结合(此动作叫 mount 机)及接上interface才能测试, 动作为handler的手臂将DUT放入socket，然后 contact pusher下压, 使 DUT的脚正确与 socket 接触后, 送出start 讯号, 透过 interface 给 tester, 测试完后, tester 送回 binning 及EOT 讯号; handler做分类动作。

检测苹果屏幕移植IC需要分为以下步骤：

1 检查屏幕IC的型号，确保与原机型号一致。

2 使用万用表测量IC引脚之间的电阻、电压等参数，确保IC引脚正常连接。

3 使用专业的测试仪器进行IC功能测试，如LVDS信号输出测试、触摸屏IC测试等。

4 进行屏幕显示测试，检查是否有异常现象，如屏幕闪烁、色彩失真等。

5 对于移植后出现问题的屏幕IC，可以尝试重新焊接或更换IC来修复问题。

芯片在设计阶段，是要进行充分地仿真的。等流片回来后，先是要统一进行CP测试，然后再逐一进行各项功能测试。

您说的“调试芯片”，不知道是指测试还是应用。如果是测试，就如我上面说的那样；如果是应用，则由专门负责嵌入式应用的工程师来做，IC硬件设计人员只做技术指导。

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