硅片外观检测的设备及正确的 *** 作方法

设备：视觉检测设备。

正确的 *** 作方法：

1.将硅片放置在视觉检测设备的工件夹具中，并按照视觉检测设备的要求对工件进行定位。

2.视觉检测设备自动进行拍照，并自动对拍照的照片进行分析，分析出硅片的外观特征，如表面平整度、尺寸精度、棱角等。

3.根据视觉检测设备检测出的结果，判断硅片的外观质量，是否达到要求。

为什么：视觉检测设备可以自动对硅片进行图像拍摄，并且具有准确的测量功能，可以精确的测量硅片的尺寸、棱角、表面质量等，并能够迅速、准确的得出外观检测结果，为硅片的外观检测提供了准确、高效的检测方法。

硅片有边长125mm、156mm的，125的又分大倒角对角线156mm和小倒角对角线165mm，多晶硅片以边长156mm为主，对角线219.2mm。硅片检测主要测试项目有：边长、对角线、倒角、厚度、TTV、线痕、崩边、隐裂、翘曲、油污、电阻率、少子寿命。

晶闸管又叫可控硅(Silicon Controlled Rectifier, SCR)。

第一层P型半导体引出的电极叫阳极A，第三层P型半导体引出的电极叫控制极G，第四层N型半导体引出的电极叫阴极K。K阴极、G控制极之间是一个PN结，不完全PN结，它的反向电阻不是很大； 当你拿到晶闸管时，用万用表（指针式）电阻当R×1或R×10，两表笔测量，找出正反电阻有差别的两极； 这时，电阻读数小时的黑表笔接的极就是P即控制极G，红表笔接的是N即阴极K ，第三个极就使A阳极； 如果三个极之间都是导通的，电阻为零，则该晶闸管已击穿损坏.

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