
一般我们称呼ICT都是指这种较高级的测试机台,如Agilent3070、Genrad、TR8100…等,除了基本的MDA功能外,也可以下载程式到待侧的电路版中,执行自我测试,提供电压及频率量测…等。
一般称呼MDA为比较低阶的ICT,例如TRI-518系列、JET-300、ADSYS-K518系列…等,这类测试机台只能量测基本的L/C/R/D零件,也可以搭配 TestJet测试排PIN零件,但其功能比较阳春,无法提供待测试电路板电源,所以也无法执行低阶的电路板程式自我测试。可以将这种测试机台当作是一台可以自动测试的万用电表。
ATE通常为流线测试,可以直接加接在SMT的后面,其主要目的为测试实板及板上零件之功能是否正常运作,故实板必须加电源才可使板上的零件工作,所以ATE在送信号时,需特别考虑零件的特性、规格,否则易损坏零件。(来源:>
电子负载(数量因产品参数而定)功率计(数量因产品参数而定)一台交流电源供应器(AC SOURCE)一台EMU(外部扩展量测单)电源测试治具(可根据情况而定)机柜、主机、显示屏、GPIB卡、测试软体、配套线材ATE是Automatic Test Equipment的缩写,根据客户的测试要求、图纸及参考方案,采用MCU、PLC、PC基于VB、VC开发平台,利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技术开发、设计各类自动化测试设备。
探针应外露越少越好。
原因是因为ATE测试时需要用到飞针测试,探针与芯片的接触精度会影响测试的准确性。
如果探针外露过多,会导致外界的微小干扰对测试结果产生影响。
因此,探针应尽可能地内置,减少外露部分。
另外,为了保护探针和芯片,还需要在ATE测试过程中进行控制和保养,以确保测试的准确性和设备的寿命。
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