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【未来可测】系列之二:忆阻器单元基础研究和性能研究测试方案
【导读】忆阻器英文名为memristor, 用符号M表示,与电阻R,电容C,电感L构成四种基本无源电路器件,它是连接磁通量与电荷之间关系的纽带,其同时具备电阻和存储的性能,是一种新一代高速存储单元,通
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上海众执芯总经理王浩文:NB-IoT测试方案开发挑战和应用
12月2日,在电子发烧友主办的第三届物联网大会智慧城市论坛上,来自中科院传感网与通信重点实验室应用测试部副部长王浩文,也是创立上海众执芯信息科技有限公司CEO的王浩文,对最新热门NB-IoT技术,给现