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晶针
技术
晶圆针测制程介绍
晶圆针测制程介绍晶圆针测(Chip Probing;CP)之目的在于针对芯片作电性功能上的 测试(Test),使 IC 在进入构装前先行过滤出电性功能不良的芯片,以避免对不良品增加制造成本。 半导体制
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2022-8-3
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