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缩减LED功率元件测试成本PXI模组化SMU亮相
PXI模组化电源测量单元(SMU)仪器问世。高亮度发光二极体(LED)、绝缘闸双极性电晶体(IGBT)、金属氧化物半导体场效电晶体 (MOSFET)等需要SMU输出瞬间高瓦数的电源进行测量,然高瓦数的
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泰克在全新2601B-PULSE 多合一源表中首次采用消除脉冲调谐技术
新闻要点:最新 PulseMeter™技术提供快达10μs的电流脉冲;在10A和10V量程时最小化焦耳热效应;适应VCSEL和LIDAR最新发展。中国北京2020年4月29日 – 泰克科技公司宣布推出
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【技术大咖测试笔记系列】之十:在当今高压半导体器件上执行击穿电压和漏流测量
作者:泰克科技技术大咖在经过多年研究和设计之后,碳化硅(SiC)和氮化镓 (GaN)功率器件正变得越来越实用。这些器件尽管性能很高,但它们也带来了许多挑战,包括栅极驱动要求。SiC要求的栅极电压(Vg