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为测试电子和机电器件设计开关系统所遇到的问题和设计产品本身一样多。随着器件中高速逻辑的出现以及与更灵敏模拟电路的连接，使得降低测试开关系统中的噪声比以前任何时候更加重要。本文所述的噪声降低技术准则是针