现代光学元件的检测方法有哪些?

宝宝妈妈2023-02-28  55

现代光学元件的检测内容与方法具体有下列几个方面:

一、光学材料性能的检测::

折射率,色散,非均匀性,应力双折射,气泡与杂质,条纹,光吸收等

二、光学元件的基本量测量:

平面(棱镜):几何尺寸

面形,角度,平行度

透镜:几何尺寸:外径,厚度,倒边

面形,中心偏

元件表面质量:划痕,

麻点,粗糙度

元件薄膜:

厚度、均匀性、透过率、应力、形变、偏振等

三、光学系统特性参数的测量:

显微镜:放大率,数值孔径

望远镜:焦距,放大率,相

对孔径,视度

照相物镜:相对孔径,分辨率,像面照度,

杂光系数

四、光学系统参数与像质检测:

焦距与星点测量,分辨率测量,几何像差测量,波像差检验,透过率测量,像面照度测量,杂光系数测量,光学传递函数测量

五、光源和接收器、激光参量和波面质量的检测等方面也都属于光学检测范围。

另外,还有非光学量用光学测量的种种方法进行检测:位移、形变、形貌等方面也都属于光学检测范围。

基于光电检测原理的外径、宽度、厚度、直线度等检测设备,采用物方远心平行光源与广角测头,实现外径与宽度等尺寸的高精度检测。其中间距可调双测头的应用使其能应用于任意尺寸的检测,外径宽度值无上限,特别适用大尺寸轧材的在线检测。

基于机器视觉的螺纹钢测量仪、测长仪、测宽仪、内孔测量仪等设备,完成各种尺寸的检测,工业相机与光源相结合完成各种轧材的检测。常用的有利用物体自发光测量直径、宽度、长度,利用背光测量直径、宽度及复杂形状,利用背光测量内孔、端面,利用补光测量宽度、长度等。

基于激光测量原理的测厚仪、轮廓仪、内径测量仪、内孔直线度测量仪等,利用各种激光传感器可实现厚度测量、宽度测量、三维曲面扫描、宽度厚度测量、轮廓测量等。其中基于激光原理的测厚系统既有接触式测厚又有非接触式测厚。

另外基于光学检测原理有更多的客制化产品,如钻杆测量、银亮钢测长测径、圆柱体旋转测径、密封圈内外径检测、双金属片弯曲度检测、大口径钢管测壁厚等等,均是客制化的测量仪器,主要是根据用户的使用需求,采用各种传感器进行定制生产,解决各种测量问题。

光学性能是一个大指标,它是由太阳能透过率 太阳能反射率、太阳能吸收率、可见光透射率、可见光反射率、 总太阳能阻隔率、紫外线阻隔率、遮蔽系数、U-值等小指标组成。光线射到纸、塑料、玻璃、金属等材料时显示出正常的反射,但是反射数量有所不同。

可依照ISO、ASTM、DIN、GB、HB等标准完成对各类产品的透光率、着色力、遮盖力、光泽度等光学性能检测服务。

主要内容:

1、折射率

2、色散及色散系数

3、双折射及非常光折射率

4、反射和反射系数

5、全反射

6、吸收系数

7、散射

一般试验:

1.光的自聚焦:

平行强光束进入介质后出现(类似于通过凸透镜)会聚。

2.光的自感应透明:

强光短脉冲进入介质后,介质几乎不吸收其能量(几乎透明)。

3.光学双稳态:

强光入射介质后,可能出现高透射或低透射两种稳定状态。

4.双光子吸收:

在强光照射下,介质的原子或分子在一次跃迁中同时吸收2个光子。

5.受激拉曼散射:

在激光照射下,介质产生的拉曼散射。

理论模型:

非谐振振子模型、双能级模型、键电荷模型、键参数模型、电荷转移理论、阴离子基团理论、双重基无结构模型。

实验仪器:

折射仪、反射率计、光学系统特性参数测试仪、自动光学检测设备等。


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