
有效质量只有在能带顶附近处才是负的,而能带顶正好对应于Brilouin区边缘,因此有效质量在Brilouin区边缘处为负。当电子在外力作用下运动时,电子的动量增大,即波矢增大——向Brilouin区边缘移动;因为波矢为Brilouin区边缘处的k的电子波满足布拉格反射条件,则电子波将要受到晶格原子的强烈反射,使得电子速度下降,从而随着外力的作用,电子的动量不断增大,但是速度却是不断地减小,这就意味着具有负的有效质量(p=m*v)。
在外场变化剧烈、其波长不能远大于晶格常数的话,就需要考虑量子效应了,经典近似即失效。而对于晶体中的电子,一般都满足经典近似条件,故可以采用有效质量概念。实际上,能够采用有效质量,也就是意味着电子的能量与其速度或者波矢的平方成正比(抛物线关系)——经典自由粒子。
但是也不是所有的能带电子都能够使用有效质量,实际上只有对于处在能带极值(导带底和价带顶)附近的电子和空穴才可以(能量与波矢之间存在抛物线关系),而对于能带中部处的载流子,因为能量很高,偏离了抛物线关系,有效质量没有意义。
看参见:“http://blog.163.com/xmx028@126” 和“xmxn24.bokee.com”网页。
在半导体物理中电子的迁移率与哪些因素有关?迁移率和单位载流子的电荷量、载流子的平均自由时间和载流子有效质量有关。迁移率=电荷量乘自由时间×有效质量。平均自由时间是指载流子受晶格两次散射中间的时间,即外电场下自由加速的时间。迁移率是单位电场强度下所产生的载流子平均漂移速度。迁移率代表了载流子导电能力的大小,它和载流子(电子或空穴)浓度决定了半导体的电导率。迁移率与载流子的有效质量和散射概率成反比。载流子的有效质量与材料有关,不同的半导体中电子有不同的有效质量。如硅中电子的有效质量为0.5m0(m0是自由电子质量),砷化镓中电子的有效质量为0.07m0。空穴分重空穴和轻空穴,它们具有与电子不同的有效质量。半导体中载流子在低温下主要受到缺陷和杂质的散射,高温下主要受到由原子晶格振动产生的声子的散射。散射越强,迁移率越低。欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出
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