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半导体高频测试针俗称“双头d弓针”,简称“高频针”常用探针头型有:B、J、J1、U、U1、T等,其体积细小、测试精度要求较高。主要用于半导体测试及通讯设备频率测试领域。如:手机、对讲机、电脑、广播等通讯频率测试。更多关于探针知识百度搜索——东莞——《景诚实业》希望能够帮助到你。欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出

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