
②电位器、可变电容器和可调电感器等元件,调动时应该旋转平稳,无跳变或卡死现象。④胶木件表面无裂纹、起泡和分层。瓷质件表面光洁平整,无缺损。⑤带有密封结构的元器件,密封部位不应损坏和开裂。⑥镀银件表面光亮,无变色和发黑现象。2畅元器件的筛选和老化③接插件应插拔自如,插针、插孔镀层光亮,无明显氧化和玷污。①元器件外观应完整无损,标注清晰,引线和接线端子无锈蚀和明显氧化。筛选和老化的目的是剔除因某种缺陷而导致早期失效的元器件,从而提高元器件的使用寿命和可靠性。因此,凡有筛选和老化要求的元器件,在整机装配前必须按照整机产品技术要求和有关技术规定进行严格的筛选和老化。然而在课堂化的业余条件下,不具备对元器件进行正规的筛选和老化的条件,只有借助于万用表和有关通用仪器对元器件进行一般的检测,对阻容元件、二极管、三极管、集成电路、
电感线圈、电位器等元件的一般检测在前面已学过的课程中已作介绍,这里不再叙述。而电视机生产厂家具备对元器件进行筛选和老化的条件,且由专业人员 *** 作,比较复杂。下面以对半导体二极管、三极管和集成电路的筛选和老化的技术要求为例作简要介绍,仅供学生参考。(1)半导体二极管、三极管的筛选和老化①筛选程序:
b畅三极管:高温储存→温度冲击→跌落(大功率管不做)→高温反偏(硅PNP管)→功率老化→高低温测试(必要时做)→常温测试→检漏→外观检查。
心→功率老化。筛选程序可根据具体情况作相应变化,但其主要项目有:高温储存→温度冲击→跌落或离②条件及要求:
储存时间:A级48h,B级96h。储存温度:硅二极管(150±3)℃;硅三极管(175±3)℃;锗二极管、三极管(100±2)℃。a畅高温储存漏电流→常温测试→检漏→外观检查。a畅二极管(此处指整流二极管):高温储存→温度冲击→敲击→功率老化→高温测试反向
锗元件:(-55±3)℃茨(85±2)℃。b畅温度冲击
硅元件:(-55±3)℃茨(125±3)℃。先低温后高温,转换时间小于1min,每种状态下放置1h,循环次数为5次。
允许曲线有跳动现象。敲击次数为3~5次。c畅敲击 在专用夹具上,用小锤敲击器件,并用图示仪监视最大工作电流正向曲线。不
在c-b极间加反向电压(具体电压值按技术部门的指定值)。反偏时间约4h,漏电流不超过规定值。f畅高温测试 试验温度锗二极管为(70±2)℃,锗中小功率三极管为(55±2)℃,锗大功g畅低温测试 试验温度为(-55±3)℃,恒温时间为30min。
i畅检漏 按技术文件规定进行。(2)半导体集成电路的筛选h畅常温测试 按技术文件规定进行。e畅高温反偏 锗管在(70±2)℃,硅管在(125±3)℃下,二极管加额定反向电压,三极管d畅功率老化 在常温下,按技术要求通电老化。老化时间A级12h,B级24h。率三极管为(75±2)℃,硅二、三极管为(125±3)℃。恒温时间为30min。①高温储存 它的作用是通过高温加热,加速任何可能发生或存在的表面化学反应,使储存条件:温度150~(175±5)℃,储存时间为48h或96h。150℃适用于环氧扁平封装循环条件:温度为(-55±3)℃茨(125±3)℃。先低温后高温,每种温度下保持30min,②温度循环 此项目能检验电路内不同结构材料的热胀冷缩性是否匹配。电路稳定,剔除潜在的失效电路。的电路,175℃适用于其他材料封装的电路。
用霍尔效应:两端通电,在内部会形成稳定电流,但在半导体的上下表面是没有电位差的;然后在半导体的两个对面的侧,加一个面磁场,这个时候在半导体另两个侧面上会形成电势差(因为内部的载流子在磁场作用下发生了偏转)。
因为N型半导体载流子是电子,故根据电流的方向和两个侧面的电位高低就可以进行判断。
如果条件允许,找一个掺杂已知的半导体,然后把他们粘到一起,组成个整体结,分别测两端电流导通情况,如果出现不能导通情况,则说明未知的和已知的相反,如果都导通,则相同。
当电流垂直于外磁场通过半导体时,载流子发生偏转,垂直于电流和磁场的方向会产生一附加电场,从而在半导体的两端产生电势差,这一现象就是霍尔效应,这个电势差也被称为霍尔电势差。霍尔效应使用左手定则判断。
扩展资料:
在半导体上外加与电流方向垂直的磁场,会使得半导体中的电子与空穴受到不同方向的洛伦兹力而在不同方向上聚集,在聚集起来的电子与空穴之间会产生电场。
电场力与洛伦兹力产生平衡之后,不再聚集,此时电场将会使后来的电子和空穴受到电场力的作用而平衡掉磁场对其产生的洛伦兹力,使得后来的电子和空穴能顺利通过不会偏移。
固体材料中的载流子在外加磁场中运动时,因为受到洛仑兹力的作用而使轨迹发生偏移,并在材料两侧产生电荷积累,形成垂直于电流方向的电场,最终使载流子受到的洛仑兹力与电场斥力相平衡,从而在两侧建立起一个稳定的电势差即霍尔电压。
正交电场和电流强度与磁场强度的乘积之比就是霍尔系数。平行电场和电流强度之比就是电阻率。大量的研究揭示:参加材料导电过程的不仅有带负电的电子,还有带正电的空穴。
参考资料来源:百度百科——霍尔效应
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