半导体老化测试时间多长

4-8小时。半导体老化测试时间4-8小时，半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。老化试验主要是指针对橡胶、塑料产品、电器绝缘材料及其他材料进行的热氧老化试验，或者针对电子零配件、塑化产品的换气老化试验。

首先， 电容的决定式为：C=εS/4πkd 。

其中，ε是一个常数，S为电容极板的正对面积，d为电容极板的距离，k则是静电力常量。

我们将你说的空气等效视为真空， 一半的空间置换为半导体， 实际改变的只有 d .

所以d减小为原来的1/2， 电容容值增大到原来的2倍。

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