
伏安特性曲线:加在PN结两端的电压和流过二极管的电流之间的关系曲线称为伏安特性曲线。如图所示:
正向特性:u>0的部分称为正向特性。
反向特性:u<0的部分称为反向特性。
反向击穿:当反向电压超过一定数值U(BR)后,反向电流急剧增加,称之反向击穿。
势垒电容:耗尽层宽窄变化所等效的电容称为势垒电容Cb。
变容二极管:当PN结加反向电压时,Cb明显随u的变化而变化,而制成各种变容二极管。如下图所示。
平衡少子:PN结处于平衡状态时的少子称为平衡少子。
非平衡少子:PN结处于正向偏置时,从P区扩散到N区的空穴和从N区扩散到P区的自由电子均称为非平衡少子。
扩散电容:扩散区内电荷的积累和释放过程与电容器充、放电过程相同,这种电容效应称为Cd。
结电容:势垒电容与扩散电容之和为PN结的结电容Cj。
裸芯片的存储温度是储存不受损的最佳温度。电子产品芯片使用的都是半导体材料,半导体材料在50°时会出现转移曲线明显。
芯片的硅核温度,就是芯片内部核心的 温度,从英文缩写就可以看出,这是个死亡温度,设计者是绝对不能跨越的。
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