电子迁移率、空穴迁移率测试

FlyTOF飞行时间法迁移率测量仪利用飞行时间法(time-of-flight，TOF)测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性， 广泛适用于各类半导体材料， 如有机半导体、金属- 有机框架（metal-organic framework, MOF）、共价有机框架（covalent organic framework,COF）、钙钛矿材料等。FlyTOF系统是一款高度集成化的光电测试系统，配备便捷的上位机控制和数据测量软件，可助力进行快速、准确的测量。

主要应用：

有机半导体（Organic semiconductor materials）

金属-有机框架（metal-organic framework, MOF）

共价有机框架（covalent organic framework, COF）

钙钛矿材料（Perovskite materials）

其它半导体材料（Other semiconductor materials）

系统特点：

专业的信号调教，电磁兼容噪声小；

软件自动控制，测试快速便捷；

快速换样装置，惰性气体氛围测试；

可实现宽温度范围的变温测试（选配）；

可灵活耦合各种类型的激发光源。

关键字：电子迁移率、空穴迁移率测试、半导体材料迁移率测量、飞行时间法迁移率测量、钙钛矿材料迁移率

一种是由轮桨型的双核铜簇及包含苄氧基的四齿羧酸配体构筑的具有优良二氧化碳气体吸附性质的化合物，

另一种是通过在材料中同时引入稀土金属铕离子及铽离子，

与含炔基的三羧酸配体构筑的具有白光发射及温度传感性质的金属有机框架材料。

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