汞探针测量cv样品受光照会对测试结果有什么影响

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原子荧光法测定受诸多因素影响，条件控制要求比较严格。尤其在应用原子荧光测汞时，实验的各环节诸如实验氛围，仪器设置，都会影响空白值，最终影响测量结果的准确性和可靠性。

外部环境及原子荧光光谱仪仪器设置因素对测定的影响及解决办法如下：

1 温度湿度影响

温度、湿度是影响氢化反应的重要因素。温度过高、过低，都会使测定稳定性变差，湿度过大，会引起散射干扰造成荧光猝灭导致荧光信号降低。实践证明，湿度对汞空白有较显著影响。

解决办法：严格控制仪器室内温度在15~30℃，湿度不大于75%。

2 炉高选择

原子荧光测定灵敏度随观测高度的变化而变化。高度太低时(小于7.5mm)，石英炉的散射光将造成很高的背景读数,对空白影响较大，过高时也会导致灵敏度及测量精度的下降。根据原子荧光光谱仪实际工作情况，通过条件试验确定最佳炉高，同等条件下炉高对空白影响见下表。

解决办法：测汞时，内干扰较大，通常通过降低炉高，使用氩氢火焰外焰测汞，可有效降低汞空白，由表2可知，AFS930测汞时10mm炉高为较佳选择。

3 光漂因素

光漂即由于光源因素引起的检测值的漂移。尤其汞灯，随环境温度的变化检测值变化较大。

解决办法：①充分预热仪器与汞灯30min~1h，采用大电流预热(40mA)，低电流检测(25mA或30mA)，可有效降低漂移现象。②检查光路是否发生移位，正确调整好光路后，可使汞灯往后移2~5mm，可降低空白值高的现象。③实验室环境，排气扇（空调）的高度、功率过大时，荧光信号影响较明显，可做适当调整。④实际测量中，样品较多时，每隔二三十样品，重测空白和工作曲线的某单点浓度，来重新拟合标准曲线,降低由于光源的漂移而造成的空白值和样品含量增大。

半导体高频测试针俗称“双头d弓针”，简称“高频针”常用探针头型有：B、J、J1、U、U1、T等，其体积细小、测试精度要求较高。主要用于半导体测试及通讯设备频率测试领域。如：手机、对讲机、电脑、广播等通讯频率测试。更多关于探针知识百度搜索——东莞——《景诚实业》希望能够帮助到你。

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